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12th IEEE European Test Symposium

Convention Center, Freiburg, Germany

May 20-24, 2007

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Committees

General Chair / Vice Chair

B. Becker - U. Freiburg (D)
M. Sonza Reorda - Polit. di Torino (I)

Organizing Committee

P. Engelke - Local Arrangements
I. Polian - Finance
M. Herbstritt - Registration
S. Spinner - Web
A. Czutro - CD-ROM
A. Fabry-Flashar - Accommodation

Program Chair / Vice Chair

Z. Peng - Linköping U. (S)
H.-J. Wunderlich - U. Stuttgart (D)

Industrial Relations Chair

P. Muhmenthaler - Infineon (D)

Publication Chair

C. Landrault - LIRMM (F)

Panel Chair

P. Prinetto - Politecnico di Torino (I)

Tutorial Chair

J. Figueras - UPC Barcelona (E)

Embedded Tutorial Chair

P. Girard - LIRMM (F)

Regional Liaisons

L. Carro - UFRGS (BR)
A. Singh - Auburn U. (USA)
A. Osseiran - Edith Cowan U. (AUS)
C.-W. Wu - Nat. Tsing-Hua U. (TW)

Steering Committee Chair

Chair: C. Landrault - LIRMM (F)

Steering Committee Members

B. Al-Hashimi - U. Southampton (UK)
B. Becker - U. Freiburg (D)
J. Figueras - UPC Barcelona (E)
E.J. Marinissen - NXP Research (NL)
P. Muhmenthaler - Infineon (D)
Z. Peng - Linköping U. (S)
P. Prinetto - Politecnico di Torino (I)
M. Renovell - LIRMM (F)
M. Sonza-Reorda - Polit. di Torino (I)
J.-P. Teixeira - IST/INESC (P)
H.-J. Wunderlich - U. Stuttgart (D)
Y. Zorian - Virage Logic (USA)

Topic Chairs

B. Al-Hashimi - U. Southampton (UK)
S. Hellebrand - U. Paderborn (D)
H. Kerkhoff - U. Twente (NL)
E. Larsson - Linköping U. (S)
E.J. Marinissen - NXP Research (NL)
C. Metra - U. Bologna (I)
M. Renovell - LIRMM (F)
J. Tyszer - Poznan Tech. U. (PL)

Program Committee

E.J. Aas - Norw. U. of Science (N)
M. Abadir - Motorola (USA)
R. Aitken - ARM Artisan (USA)
W. Anheier - U. Bremen (D)
F. Azais - LIRMM (F)
L. Balado - U. Polit. de Catalunya (E)
A. Benso - Polit. di Torino (I)
G. Carlsson - Ericsson (S)
K. Chakrabarty - Duke U. (USA)
W. Daehn - HS Magdbg.-Stendal (D)
R. Dorsch - IBM Entw. (D)
M.-L. Flottes - LIRMM (F)
G. Francis - NXP Semiconductors (UK)
H. Fujiwara - NAIST (J)
F. Fummi - U. Verona (I)
D. Gizopoulos - U. Piraeus (GR)
E. Gramatova - Slov. Acad. Sci. (SK)
S. Hamdioui, Delft U. of Tech. (NL)
C. Hill - Mentor Graphics (UK)
M. Hirech - Synopsys (USA)
A. Hlawiczka - Silesian TU. (PL)
M. S. Hsiao - Virginia T. U. (USA)
P. Hughes - ARM (UK)
A. Ivanov - U. British Col. (CAN)
R. Kapur - Synopsys (USA)
S. Kajihara - Kyushu Inst. Tech. (J)
B. Kruseman - NXP Research (NL)
S. Kundu - U. of Massachusetts (USA)
H. Lang - Freescale Semi. (D)
M. Lubaszewski - UFRGS (BR)
Y. Makris - Yale U. (USA)
H. Manhaeve - QStar Test (B)
T. Margaria - U. Göttingen (D)
P. Maxwell - Agilent Tech. (USA)
L. Miclea - U. Cluj-Napoca (RO)
S. Mir - TIMA CMP (F)
Y. Miura - Tokyo Metro. U. (J)
W. Moore - Oxford U. (UK)
N. Nicolici - McMaster U. (CAN)
F. Novak - Jozef Stephan Inst. (SLO)
O. Novak - TU Prague (CZ)
A. Orailoglu - UCSD (USA)
S. Ozev - Duke U. (USA)
A. Paschalis - U. Athens (GR)
A. Pataricza - Budapest U. TE (H)
F. Poehl - Infineon Techn. (D)
J. Raik - Tallinn U. (EE)
J. Rajski - Mentor Graphics (USA)
A. Richardson, U. Lancaster (UK)
J. Rivoir - Agilent Techn. (D)
C. Robach - ESISAR (F)
P. Rosinger - U. Southampton (UK)
B. Rouzeyre - LIRMM (F)
A. Rueda - CNM (E)
G. Russell - Newcastle U. (UK)
P. Sanchez - U. Cantabria (E)
J. Segura - U. Illes Balears (E)
B. Straube - EAS/IIS FhG (D)
J.-P. Teixeira - IST/INESC (P)
N. Touba - U. of Texas (USA)
R. Ubar - Tallinn U. (EE)
B. Vermeulen - NXP Research (NL)
C. Wegener - Infineon Techn. (D)
M. Zwolinski - U. Southampton (UK)

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